激光恒温锡焊

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Beamfiler激光光斑光束质量分析仪技术参数-图片-应用-报价

Beamfiler激光光斑光束质量分析仪技术参数-图片-应用-报价

产品简介:Beamfiler光束质量分析仪装置一体化设计,配套衰减方案设计,支持实时曝光及增益调节。适用半导体激光器,固体激光器,光纤激光器,超快激光器,激光测距等领域。目前已作为成熟产品在市场推广,性价比高,得到大量客户认同。现公司研发部可根据客户不同需求进行模块化定制。
  • 技术数据
  • 应用白皮书

    产品图片:

     

     

    产品简介

    Beamfiler光斑分析仪可实现激光光斑检测及测试应用。为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案,并支持多应用开发。通过光束分析装置一体化设计,配套衰减方案设计,最小可测量直径40μm光斑,支持实时曝光及增益调节。该系统可以对连续可见激光光斑进行采样,分析得到激光光斑中心,半径,椭圆比等,并对光强能量场进行二维和三维显示。可广泛用于需要对激光光斑形状进行检测得场合,如激光生产,维护以及激光应用。也常用于光学器件质量检查,激光腔镜调整,外光路准直,光纤对准耦合分析等。

     

    软件界面


     

    产品硬件参数

    项目 参数
    型号 beamfiler-V001
    靶面尺寸 1/1.8"
    光谱响应 190-1100nm
    感光尺寸 7.1mm W x 5.4mm H
    有效像素 2048 x 1536
    像素尺寸 3.45μm x 3.45μm
    帧速率 6-12帧@2048 x 1536有效像素
    最小系统动态范围 47dB
    接口

    USB 3.0

    尺寸和CMOS凹进量

    44 mm x 35 mm x 19.5 mm

    CMOS凹进量:表面下12.5mm

    标准软件 Beamfiler2022

     

     

    产品软件参数:

     

    软件

    XP, Vista, Win7, Win8 (32/64 位)Windows系统

    多开 (同时打开多个程序实例)

    支持 USB/火线/CameraLink 相机

    CWMode/脉冲模式 (软件触发)

    实时模式 (实时数据) 和保存模式 (存储数据) 可同时使用

     

    标准功能

    ROI 调整 (质心、峰值、光束宽度)

    计算 (阈值级别、最高像素)

    缩放功能 (所有可视化和测量窗口)

    相机设置 (曝光时间、增益)

    曝光自动, 增益自动

    触发设置 (延时)

     

    导出

    数据 (CSV)

    图像 (BMP /PNG)

    灰度图像8位

    视频 (AVI)

    视频捕捉/回放

    生成报告

     

    窗口

    2维视图

    3维视图

    XY截面视图

    多光斑分析

    光束参数 (光束宽度、质心、椭圆率等)

     

    数据监测

    峰值、质心 X/Y、光束宽度:D4、DPK、DT

     

    导入

    数据 (CSV)

    灰度图像8位

     

    组成部件

    传感器,配备数据连接线

     

    Beamfiler操作软件

    可选衰减配件

     

    功能特点:

    1,高速度、高分辨率显示2D和3D伪彩色光束轮廓
    2,支持Windows XP Service Pack 3或更高版本的操作系统
    3,支持控制相机的曝光、增益和分辨率
    4,实时进行光斑的伪彩色2D显示、长短轴的高斯曲线显示
    5,支持2D模式下的连续缩放
    6,测量光斑的长短轴、椭圆率、旋转角等参数
    7,支持参数的统计分析
    8,记录和导出参数,或者生成报告
    9,读取光斑图片并测量参数
    10,多选择的图片保存功能
    11,支持USB3.0接口
    12,可定制拓展功能