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LWIR系列激光光束光斑分析仪技术参数-图片-应用-报价

LWIR系列激光光束光斑分析仪技术参数-图片-应用-报价

产品简介:松盛光电自主研发的光斑分析仪可实现激光光斑检测及测试应用。为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案,并支持多应用开发。光束质量分析仪装置一体化设计,配套衰减方案设计,支持实时曝光及增益调节。适用半导体激光器,固体激光器,光纤激光器,超快激光器,激光测距等领域。目前已作为成熟产品在市场推广,性价比很高,得到大量客户认同。现公司研发部可根据客户不同需求进行模块化定制。
  • 技术数据
  • 应用白皮书

    Beamfiler LWIR系列光斑分析仪是长波红外范围内激光器光斑检测方案。Beamfiler LWIR系列光斑探测相机拥有17微米的像素、8 μm-14μm的波长范围和一个集成快门,具有无可比拟的光束扩展能力。此款相机具有非常高的灵敏度,集成的快门可以进行全自动的非均匀性校正。

    LWIR系列激光光束光斑分析仪产品图片

    LWIR系列激光光束光斑分析仪产品特点:

     

    1.可测量激光光斑形态,具有丰富的图像处理功能。

     

    2.波长响应8 μm-14μm

     

    3.像素大小17 μm, 集成式快门

     

    4.数据接口GigaEthernet

     

    LWIR系列激光光束光斑分析仪典型应用:

     

    1.LWIR/CO2激光轮廓分析

     

    2.产品质量监控

     

    3.现场分析CO2激光器和激光系统

     

    4.光学组装和仪器对准

     

    5.光束漂移记录

     

    6.高分辨率红外成像

    LWIR系列激光光束光斑分析仪产品型号:

    相机型号 

    波长 

    像素 

    (μm 

    分辨率 

    靶面尺寸
    mm 

    光斑检测大小 

    Px

    Py

    Dx

    Dy

    MIN

    (μm 

    MAXmm 

    BFL1705G

    8µ-14µm 

    17

    400

    300

    6.8

    5.1

    170.0

    4.3

    BFL1708G

    8µ-14µm 

    17

    640

    512

    10.9

    8.7

    170.0

    7.4

    光束光斑分析仪简介

     

    松盛光电自主研发的光束光斑分析仪可实现激光光斑检测及测试应用。为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案,并支持多应用开发。光束质量分析仪装置一体化设计,配套衰减方案设计,支持实时曝光及增益调节。适用半导体激光器,固体激光器,光纤激光器,超快激光器,激光测距等领域。目前已作为成熟产品在市场推广,性价比很高,得到大量客户认同。现公司研发部可根据客户不同需求进行模块化定制。

     

    光束光斑分析仪产品特点:

     

    1. 可选超宽光谱多波长系列产品,覆盖紫外到长波红外波长范围。

     

    2. 较宽的光斑直径测量范围:光斑直径范围可满足目前市场大部分的光斑产品范围,部分产品支持更小光斑拓展。

     

    3. 光斑分析仪一体化设计,配套衰减方案设计:设备自带吸收衰减装置,测低功率的毫瓦级激光光斑,也可根据不同功率激光光斑测试需求,提供可选的衰减方案,无需准备其他配件即可快速测量。

     

    4. 软件自主开发,可提供底层通讯协议.

     

    5. 高性价比,可代替进口激光光束质量分析仪,实现激光光斑检测及测试应用.

     

    光束光斑分析仪产品光谱覆盖范围:

    需求定制:可为客户定制不同需求的光斑分析仪,满足不同的激光光束直径和激光功率测试需求。